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安全计算机双口RAM数据通信论文
１安全数据交互方式
为避免ＭＰＵ和ＨＣＵ同时对双口ＲＡＭ的同一个内存单元进行访问，本设计没有采用双口ＲＡＭ的中断或者信号量等机制，而是采用一种基于角色的环形缓冲收发机制，将双口ＲＡＭ划分为两个独立环形缓冲区：发送环形缓冲区和接收环形缓冲区。发送环形缓冲区负责将ＭＰＵ数据传递给ＨＣＵ，最终发送给外部设备；ＨＣＵ从外部设备接收到数据，放到接收环形缓冲区，并传递给ＭＰＵ。
１．１数据处理
三取二安全计算机逻辑运算模块的运行周期为６００ｍｓ，该模块按照周期进行数据接收、数据处理、数据输出。在第ｎ个周期，ＭＰＵ上的控制逻辑运算模块从双口ＲＡＭ接收到数据后，放到逻辑接收缓冲区；从逻辑接收缓冲区取出ｎ－１个周期的数据并进行逻辑处理；将ｎ－２个周期的逻辑处理结果，从逻辑发送缓冲区中取出，放到双口ＲＡＭ中。ＭＰＵ上的控制逻辑运算模块对安全数据进行逻辑处理的时间不超过３００ｍｓ，如果超过，就会影响ＭＰＵ接收或者发送数据。同样，ＭＰＵ上的控制逻辑运算模块接收、发送数据超过３００ｍｓ，也会影响逻辑处理功能。在接收发送处理阶段，３００ｍｓ中的２８０ｍｓ被分为２０个发送接收子周期，每一个子周期的时间为１４ｍｓ。在ＨＣＵ中，也是按照同样的运行节拍从双口ＲＡＭ中写入或读出数据。ＭＰＵ与ＨＣＵ之间交互的数据，按照预先定义的双口ＲＡＭ交换数据帧进行。数据帧定义略———编者注。
１．２数据接收
ＨＣＵ通过网络接口接收到数据后，对数据进行预处理，按照交换数据帧进行数据组包。根据当前周期号设置“ｃｙｃｌｅ”，同时确定该数据包需要被放到Ｄ、Ｅ、Ｆ三个区块中写入区块角色标志“ｒｏｌｅ”，将“ｆｌａｇ”设置为１（即为输入），并交换数据帧的其他字段，按照源网络数据包中的信息进行设置。ＨＣＵ根据当前周期号确定在接收环形缓冲区中的写入区块后，将组包之后的交换数据帧放到写入区块中。ＭＰＵ根据当前周期号确定在接收环形缓冲区中的读出区块后，从读出区块中获取交换数据帧，然后对数据帧进行解包，并通过“ｃｙｃｌｅ”、“ｒｏｌｅ”、“ｆｌａｇ”、“ｓａｆｅｔｙ”、“ｃｒｃ”等信息来验证数据帧的唯一性和正确性，正常的数据帧被放到逻辑接收缓冲区，异常的数据帧被丢弃。同时ＭＰＵ根据当前周期号，确定在接收环形缓冲区中的测试区块，利用内存检测算法对测试区块进行双口ＲＡＭ内存区块检测。
１．３数据发送
在当前周期的６００ｍｓ内，ＭＰＵ进行逻辑运算处理在３００ｍｓ内完成后，ＭＰＵ从逻辑发送缓冲区中读取上个周期的逻辑处理结果数据，并对结果数据进行预处理，按照交换数据帧进行数据组包。根据当前周期号设置“ｃｙｃｌｅ”，同时确定该数据包需要被放到Ａ、Ｂ、Ｃ三个区块中写入区块角色标志“ｒｏｌｅ”，将“ｆｌａｇ”设置为１（即为输入），并交换数据帧的其他字段，按照源网络数据包中的信息进行设置。ＭＰＵ根据当前周期号，确定在发送环形缓冲区中的写入区块后，将组包之后的交换数据帧放到写入区块中。ＨＣＵ根据当前周期号，确定在接收环形缓冲区中的读出区块后，从读出区块中获取交换数据帧，然后对数据帧进行解包，并通过“ｃｙｃｌｅ”、“ｒｏｌｅ”、“ｆｌａｇ”、“ｓａｆｅｔｙ”、“ｃｒｃ”等信息来验证数据帧的唯一性和正确性，验证数据帧的正确性。异常的数据帧被丢弃，正常的数据帧按照网络数据帧进行组包，并通过网络发送给轨旁设备或者车载控制器。同时ＨＣＵ根据当前周期号，确定在发送环形缓冲区中的测试区块，利用内存检测算法对测试区块进行双口ＲＡＭ内存区块检测。
１．４区块角色轮换
双口ＲＡＭ的发送与接收环形缓冲区的３个区块，在任意一个周期都只能处于读出、写入、测试３种中的某一种角色，而且这３个角色进行周期轮换，区块角色轮换表略———编者注。ＭＰＵ与ＨＣＵ通过双口ＲＡＭ区块角色进行数据交互的步骤略———编者注。ＭＰＵ与ＨＣＵ通过相同的外部时钟中断来驱动数据处理软件模块的运行，ＭＰＵ与ＨＣＵ在对双口ＲＡＭ进行访问时可以做到同步、流水线作业。在同一个处理周期内，发送环形缓冲区或者接收环形缓冲区中任何一个区块都有明确固定的角色，ＭＰＵ板和ＨＣＵ板不会同时访问操作相同区块，只有一个板卡对特定区块进行访问，从而解决了双口ＲＡＭ的访问冲突问题，不需要另外采取硬件仲裁、软件仲裁或者信号量交互等手段。
１．５双口ＲＡＭ检测
应用在三取二安全计算机中双口ＲＡＭ可能存在一些功能性缺陷。无论门级电子元件的制造缺陷，还是板卡电路级的设计错误，都可能导致双口ＲＡＭ的存储功能性故障，从而降低其功能完整性和可靠性。双口ＲＡＭ存储单元具有多种类型的故障略———编者注。实际项目应用中，开发人员需要关注双口ＲＡＭ存储功能的完整性和可靠性，可以通过存储器检测算法来对其进行检测和诊断，能够及时地发现和定位双口ＲＡＭ的存储功能故障，并及时采取相应的措施，避免因双口ＲＡＭ存储单元的数据错误导致的严重后果。本文采用硬件ＢＩＳＴ架构（ＨＢＩＳＴ），在硬件电路中设计专门的硬件逻辑部件来对内存进行测试，其图形测试向量有专门的硬件电路模块生成，自动对内存的各种功能故障进行测试，硬件架构内建测试的内存故障测试覆盖率高，而且测试速度快，设计选取的图形测试向量主要用于覆盖高层次的内存故障，如ＮＰＳＦ、ＣＦ、ＤＲＦ。ＨＢＩＳＴ利用Ｍａｒｃｈ－ＴＢ内存测试算法对系统的内存进行测试，使用硬件ＨＢＩＳＴ电路来生成图形测试向量，并由硬件ＨＢＩＳＴ电路来进行测试，ＨＢＩＳＴ测试电路模型略———编者注。在硬件ＢＩＳＴ处于非工作状态时，会拉低ＢＩＳＴ的时钟信号，ＢＩＳＴ电路进入休眠状态。当系统在夜间进入非繁忙状态，会产生ＢＩＳＴ＿ＭＯＤＥ信号，来激活ＢＩＳＴ电路的ＢＩＳＴ模式控制器，并拉高时钟信号，ＢＩＳＴ模式控制器发出控制信号，会接管对整个ＲＡＭ的访问控制，并对ＲＡＭ开始进行测试。ＢＩＳＴ模式控制器控制测试向量产生器、地址与数据生成逻辑工作，产生相应的测试向量对ＲＡＭ进行测试。同时，并将测试结果在ＢＩＳＴ结果比较器中进行比较，如果发现异常，退出ＢＩＳＴ＿ＭＯＤＥ模式，通知ＭＰＵ测试异常，ＭＰＵ产生相应的告警和错误处理。ＨＢＩＳＴ在进行内存检测时一共具有４种状态：ｉｄｌｅ、ｔｅｓｔ、ｅｒｒｏｒ、ｗａｉｔ。ｉｄｌｅ表示处于等待测试数据进行测试的空闲状态；ｔｅｓｔ表示获得测试向量对相应内存单元进行测试；ｅｒｒｏｒ表示检测到内存单元出错；ｗａｉｔ表示处于休眠状态，等待ＣＰＵ模块激活ＨＢＩＳＴ。ＨＢＩＳＴ状态机的状态转移图略———编者注。ＨＢＩＳＴ状态机的ＶＨＤＬ程序略———编者注。在测试的过程中，通过植入内存故障，并用逻辑分析仪获取出错信号，硬件ＢＩＳＴ模块检测内存出错图如图３所示。圆圈里面的测试结果与期望结果不一致，内存检测出错。
１．６数据交互软硬件设计
双口ＲＡＭ是双端口ＳＲＡＭ芯片，本设计采用ＣＹ７Ｃ０２８Ｖ－１５ＡＸＩ，读写速度最高为１５ｎｓ，数据容量为６４Ｋ×１６位。双口ＲＡＭ连接ＨＣＵ板的一端为ＭＰＣ８２４７的ＬＯ－ＣＡＬＢＵＳ总线，连接ＭＰＵ板的一端为ＣＰＣＩ总线桥接芯片的ＬＯＣＡＬＢＵＳ总线，ＨＣＵ可以直接通过ＬＯＣＡＬＢＵＳ总线访问双口ＲＡＭ，而ＭＰＵ板通过ＰＣＩ总线访问，其中还有控制信号，如片选、读写、中断、ＢＵＳＹ信号等。双口ＲＡＭ交互电路图略———编者注。在ＭＰＵ和ＨＣＵ中，通过设计的软件模块，来完成双口ＲＡＭ的访问操作。双口ＲＡＭ的ＭＰＵ上软件交互关键代码略———编者注。
２结语
分析了应用在轨道交通行业中的三取二安全计算机的双口ＲＡＭ数据通信要求，并在实际的项目设备开发中，设计了基于角色轮换和自检技术的数据通信方案，可以满足三取二安全计算机数据通信的安全性、可靠性和实时性要求。
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